核心技术：独家光学设计达到业界最低信噪比独家AI影像比对技术，漏检率达到最低结合光学及影像处理技术，在高反光背景材料和透明材料上均能清晰检测待测物先进性：采用独家双非球面镜头设计，搭配光学系统设计以及AI影像比对技术，显著提升AOI设备3D检测能力，Z轴解析度可达2um，漏检率低至<0.3%。技术完全自主，可根据客户需求针对不同产品检测做定制化设计，协助客户达到高良率与最佳品质